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    XRF歸納之X射線熒光光譜儀工作原理

     更新時間:2021-08-16 點擊量:2581
     XRF歸納之X射線熒光光譜儀工作原理
      【摘要】
      X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。
      XRF測試作為常用測試之一,但仍有許多同學不太了解其工作原理,本篇文章由科學指南針科研服務平台給大家介紹X射線熒光光譜儀工作原理。
      X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行,內層電子(如K層)在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,釋放出來,電子的逐放會導致該電子殼層出現相應的電子空位。這時處於高能量電子殼層的電子(如:L層)會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應的電子空位。由於不同電子殼層之間存在著能量差距,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來,不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。這一個過程就是榴莲视频色版所說的X射線熒光(XRF)。元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷,同時發射出具有一定特殊性波長的X射線,根據莫斯萊定律,熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關,其數學關係如下:
      λ=K(Z-S)-2
      式中K和S是常數。而根據量子理論,X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流,每個光具有的能量為:
      E=hν=hC/λ
      式中,E為X射線光子的能量,單位為keV;h為普朗克常數;ν為光波的頻率;C為光速。因此,隻要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。將樣品中有待分析的各種元素利用X射線轟擊使其發射其特征譜線,經過狹縫準直,使其近似平行光照射到分光晶體上,對己知其麵間距為d的分光晶體點陣麵上的輻射加以衍射。依據布拉格定律,適用公式nλ=Zdsinθ。
      對於晶體的每一種角位置,隻可能有一種波長的輻射可被衍射,而這種輻射的強度則可用合適的計數器加以測量。分析樣品時,鑒定所發射光譜中的特征譜線,就完成了定性分析;再將這些譜線的強度和某種適當標準的譜線強度進行對比,就完成了定量分析。
      以上僅為科學指南針平台的自我總結,故此分享給大家,希望可以幫助大家對測試更了解,如有測試需求,可以和科學指南針聯係,榴莲视频色版會給與您最準確的數據和好的服務體驗,惟祝科研工作者可以更輕鬆的工作。

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